1. ......................

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع : Very large scale integration - Testing - Data processing ، Integrated circuits,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533
1987

2. Advanced simulation and test methodologies for VLSI design

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع : Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits

رده :
TK
7874
.
R88
1989

3. Algorithmic and knowledge based CAD for VLSI

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)

موضوع : Design and construction -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Testing -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,، Computer-aided design,، Expert systems )Computer science(

رده :
TK
7874
.
A416
1992

4. An artificial intelligence approach to test generation

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)

موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing , Expert systems )Computer science( , Artificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533

5. An artificial intelligence approach to test generation

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)

موضوع : ، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533

6. An artificial intelligence approach to test generation

پدیدآورنده :

موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence

۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.

7. An introduction to logic circuit testing /

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing

8. Built-in test for VLSI: pseudorandom techniques

پدیدآورنده :

موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration - Testing

۴ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

9. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع : Very large scale integration - Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integratation - Testing ، Integrated circuits,Wafer-scale integration - Design and construction ، Integrated circuits,Wafer-scale integration - Testing ، Integrated circuits

رده :
TK
7874
.
D4749
1989

10. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه حکیم سبزواری (خراسان رضوی)

موضوع : Very large scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Very large scale integration -- Testing ، Integrated circuits,Wafer-scale integration -- Design and construction ، Integrated circuits,Wafer-scale integration -- Testing ، Integrated circuits

رده :
TK
7874
.
D4749
1989

11. Design & test techniques for VLSI & WSI circuits

کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)

موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction,، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing,، Integrated circuits- Wafer- scale integration- Design and construction,، Integrated circuits- Wafer- scale integration- Testing

12. Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)

موضوع : ، Integrated circuits- Large scale integration- Testing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing

رده :
TK
7874
.
J35

13. Digital circuit testing and testability

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)

موضوع : Testing ، Integrated circuits - Very large scale integration,Testing ، Digital integrated circuits,، Integrated circuits - Fault tolerance

رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997

14. Digital circuit testing and testability

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)

موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,، Digital integrated circuits-- Testing,، Integrated circuits-- Fault tolerance

رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997

15. Digital hardware testing. transistor-level fault modeling and testing

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)

موضوع : ، Electronic digital computers- Circuits- Testing- Data processing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Electric fault location

رده :
TK
7888
.
4
.
R35

16. Essentials of digital signal processing using matlab

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد (تهران)

موضوع : Integrated circuits- Very large scale integration -- Testing,Digital integrated circuits -- Testing,Mixed signal circuits -- Testing,Semiconductor storage devices -- Testing

رده :
TK
،
7874
,.
75
،.
I5
,
E8
،
2012

17. Formal verification :

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Electronic circuits-- Testing,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction,Verilog (Computer hardware description language)

رده :
TK7867

18. Formal verification : an essential toolkit for modern VLSI design

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)

موضوع : Testing ، Electronic circuits,Design and construction ، Integrated circuits -- Very large scale integration,، Verilog )Computer hardware description language(

رده :
TK
7867
.
S46F6

19. Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)

موضوع : ، Integrated circuits, Very large scale integration, Design and construction,، Integrated circuits, Very large scale integration, Testing,، Genetic algorithms,، Integrated circuit layout

رده :
TK
7874
.
75
.
M39G4
2007

20. Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)

موضوع : Very large scale integration Testing ، Integrated circuits,، Genetic algorithms,Very large scale integration Design and construction ، Integrated circuits

رده :
TK
7874
.
75
.
M39